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    掃描電鏡和透射電鏡樣品的要求的區(qū)別由普拉特澤生物為大家總結(jié)分享，普拉特澤生物病理實(shí)驗(yàn)平臺(tái)專業(yè)承接HE染色實(shí)驗(yàn)外包、Masson染色等病理實(shí)驗(yàn)代做服務(wù)，積累專業(yè)豐富的實(shí)驗(yàn)操作經(jīng)驗(yàn)。上期我們分享透射電鏡與掃描電鏡的區(qū)別大家都說不夠詳細(xì)，有一些對(duì)于樣品的區(qū)別沒有寫出來，那今天咱們就為大家專門出一期掃描電鏡和透射電鏡樣品的要求的區(qū)別，快點(diǎn)學(xué)起來吧！

掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）是兩種不可或缺的工具。盡管它們都使用電子束來產(chǎn)生樣品的圖像，但由于成像原理和技術(shù)特性的不同，兩者對(duì)樣品的要求存在顯著的差異

首先，從成像原理的角度來看，掃描電鏡和透射電鏡有著本質(zhì)的區(qū)別。掃描電鏡主要利用電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出的二次電子和背散射電子等信號(hào)進(jìn)行成像，因此它能夠提供樣品表面的高分辨率形貌圖像和化學(xué)組成信息。而透射電鏡則是基于電子束穿過超薄樣品時(shí)的散射和衍射原理進(jìn)行成像，能夠觀察到樣品內(nèi)部的微觀形貌和晶體結(jié)構(gòu)。

▲(1)掃描電鏡

SEM制樣對(duì)樣品的厚度沒有特殊要求，可以采用切、磨、拋光或解理等方法將特定剖面呈現(xiàn)出來，從而轉(zhuǎn)化為可以觀察的表面。這樣的表面如果直接觀察，看到的只有表面加工損傷，一般要利用不同的化學(xué)溶液進(jìn)行擇優(yōu)腐蝕，才能產(chǎn)生有利于觀察的襯度。不過腐蝕會(huì)使樣品失去原結(jié)構(gòu)的部分真實(shí)情況，同時(shí)引入部分人為的干擾，對(duì)樣品中厚度極小的薄層來說，造成的誤差更大

▲(2)透射電鏡

由于TEM得到的顯微圖像的質(zhì)量強(qiáng)烈依賴于樣品的厚度，因此樣品觀測部位要非常的薄，例如存儲(chǔ)器器件的TEM樣品一般只能有10～100nm的厚度，這給TEM制樣帶來很大的難度。初學(xué)者在制樣過程中用手工或者機(jī)械控制磨制的成品率不高，一旦過度削磨則使該樣品報(bào)廢。TEM制樣的另一個(gè)問題是觀測點(diǎn)的定位，一般的制樣只能獲得10mm量級(jí)的薄的觀測范圍，這在需要精確定位分析的時(shí)候，目標(biāo)往往落在觀測范圍之外。目前比較理想的解決方法是通過聚焦離子束刻蝕(FIB)來進(jìn)行精細(xì)加工。

除了上述對(duì)樣品的要求外，掃描電鏡和透射電鏡在功能應(yīng)用上也存在差異。掃描電鏡主要用于觀察樣品表面的微觀形貌和化學(xué)組成信息，廣泛應(yīng)用于材料表征、失效分析、半導(dǎo)體器件檢測等領(lǐng)域。而透射電鏡則不僅可以觀察樣品的內(nèi)部形貌，還可以分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、化學(xué)組成和價(jià)態(tài)等，對(duì)于納米材料、礦物巖石、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究具有重要意義。

所以  掃描電鏡和透射電鏡在成像原理、樣品要求以及功能應(yīng)用等方面存在顯著的差異。了解這些差異有助于我們更好地選擇和使用這兩種電子顯微鏡工具，以滿足不同科學(xué)研究和材料分析的需求。

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